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20221118 EPMAにおける微量元素測定へのアプローチ
電子プローブマイクロアナライザー (EPMA) は表面の組織および形態の観察と、ミクロンオーダーの局所元素分析を行う分析装置です。特に、SEM-EDSに比べて大電流での分析が可能な事から、微量元...
薄膜・積層膜の分析方法をお探しの方へ ~XRF,XPSを用いた分析のご紹介...
試料表面に形成された薄膜・積層膜の元素組成や化学状態、その膜厚を調べるという要求は多くあります。そのような試料の分析には、SEM,TEMを用いて断面観察しながらの分析がよく行われていますが、高度...
20230324 SXESを用いた定量分析への取り組み ~ 電子プローブマイクロ...
軟Ｘ線発光分光器 (SXES) を用いて主に計測する特性Ｘ線は、価電子帯-内殻の遷移に基づく発光スペクトルであることが多いので、材料の化学結合状態によってスペクトル形状が大きく変化し、既存のZA...
20231020 表面分析装置 (AES) におけるコンタミネーションを防ぐ試料...
表面分析装置 (AES) における分析時の注意点と共に、具体的にコンタミネーションを防ぐ試料の取り扱い方法について紹介します。また実際に表面分析を担っている分析者に対して、分析時のダメージ評価や...
非曝露環境下でのリチウムイオン電池のTEM試料作製 動画閲覧お申込み...
リチウムイオン電池は大気成分と反応しやすいため、大気非曝露下での試料搬送及び試料作製が必要です。今回、全固体リチウムイオン電池のシリコン負極材を試料として、集束イオンビーム装置 (FIB) を用...
FIB-SEMによる蝶の構造色の三次元解析例 動画閲覧お申込みフォーム |...
自然界には色とりどりの生き物がいます。一般的な発色は色素物質によるものですが、サブミクロンオーダーの三次元的な構造を作り出し、光学現象を起こして鮮やかな発色 (構造色) をしている生き物もいます...
20221125 大気非曝露冷却CPのご紹介 ―電池材料の断面作製法―
充電状態にある電池材料の解析には、大気を遮断した環境 (大気非曝露環境) が必須です。 CP (クロスセクションポリッシャ™) は、大気非曝露環境下での断面加工・試料搬送に対応し、さらに試料を...
20230310 Arイオン平面ミリングにより試料作製をした半導体チップの電...
走査電子顕微鏡 (SEM) で試料表面の局所的な電位差を確認する方法として、電位コントラスト (Voltage contrast :VC) 法があります。VC法は半導体デバイスの内部配線が設計通...
CP耳寄り情報！短時間加工のコツ
CP (クロスセクションポリッシャ™) は、SEMの断面作製装置として広く普及しています。近年では、電子部品の層構造の確認や接合部などの品質管理にもCPが使用されるようになり、断面試料を短時間で...
20220826 FIB-SEMのクライオ技術のご紹介
クライオ電子顕微鏡法がノーベル化学賞を受賞して5年が経ち、単粒子解析から、クライオ電子線トモグラフィー (ET) やマイクロ電子回折 (ED) 等へと応用範囲が広がっています。クライオETやマイ...
20230822 CPによる電子部品断面作製 ～基礎と半導体パッケージ内部断...
X線CTを用いることにより半導体パッケージの表面から数百マイクロメートル以上の深い位置に存在する内部構造を調査することができます。さらに、その断面を露出させれば、SEMで分析が可能となり、より詳...
美麗な像が未来をつくる ～JSM-IT800‹SHL›の各検出器による情報選択...
恒例となりましたオックスフォード・インストゥルメンツ株式会社とのジョイントセミナーの動画となります。
SEM観察の基礎と応用 ～試料情報を引き出す前処理と観察条件設定～ ...
最近の走査電子顕微鏡（SEM）はフォーカス・スティグマなど、自動調整機能の発達により、誰でも簡単に像取得ができるようになりました。しかし、試料からの情報を的確に捉えるためには、観察目的に合った試...
Correlative microscopy (CLEM) の実践的なワークフロー 動画閲覧お申...
三次元的なCorrelative microscopy (CLEM) を行うための具体的な方法をご説明します。登上線維に蛍光タンパク質を発現したマウスの小脳を共焦点顕微鏡 (OM)で撮影し、三次...
試料を冷やしてダメージ軽減！ソフトマテリアルや含水試料の観察！ 動...
ソフトマテリアルや含水試料は、SEM観察が難しい試料です。これらの試料に対して、従来はクライオシステムを用いて観察していましたが、冷却ホルダーとSEMの低真空 (LV:Low Vaccum) 機...
コーヒーの美味しさの秘密にSEMで迫る！ ～卓上SEM JCM-7000で知るコ...
卓上SEMによる粒子解析を用いたコーヒーの評価方法について紹介いたします。 コーヒーは生産地や抽出方法などによって、香り・味・テクスチャーなどの風味が変動します。風味の評価方法としてヒトによる...
ウィルス、細菌、真菌！どのSEMで観察しますか？試料に応じた使い分け...
試料や目的に応じて最適な観察条件は変わります。つまり、どのSEMで観察するかがとても重要になります。 今回は装置の使い分けが特に難しい大きさの生物試料を中心に卓上SEM、W-SEM、汎用FE-...
JCM-7000を使うとこんなに簡単！電子部品の機械研磨断面を迅速解析し...
走査電子顕微鏡 (SEM) で試料の内部構造を観察する前処理法の一つとして、機械研磨による断面作製があります。 機械研磨面は広領域の断面が得られるため、卓上SEM JCM-7000のZerom...
ルーティンワークはJSM-IT510におまかせ ～Simple SEMで変わるSEMの...
走査電子顕微鏡 (SEM) は、今や研究開発だけでなく、品質保証や製品検査で幅広く使われています。これらの現場では、決められた条件で観察を繰り返すことが多く、作業の効率化が求められてきました。 ...
20221104 快適なEBSD測定を行うためのSEMの選び方
知りたい情報に対して分析装置が適切であることは、測定を容易にし、データの質を高めることに繋がります。 後方散乱電子回折(EBSD)測定においても同様であり、どの走査電子顕微鏡(SEM)で測定す...