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ポリマー分析の新常識 第5弾 MALDI-TOFMSによるマスイメージング解析...
マトリックス支援レーザー脱離イオン化 (MALDI) をはじめとするソフトイオン化法と高分解能な飛行時間質量分析計 (TOFMS) の組合せはポリマー解析において強力なツールです。一方で、種々の...
HPLCとの組み合わせで広がる！MALDI-TOFMSによるポリマー分析の可能性...
高質量分解能MALDI-TOFMSを用いた合成高分子分析は、近年ケンドリックマスディフェクト (KMD) 解析との組み合わせにより複雑な工業材料分析にも適用可能になりました。 一方でMALDI...
20230124 ヘリウムキャリアガス以外でもここまで出来る！最新のGC-MS...
たびたび起こるヘリウム不足。使用量の切り詰めに頭を悩ませていませんか?このへんでひとつ、代替ガスについて検討してはいかがでしょうか。本ウェビナーではMS視点から、ガス選択について解説します。水素...
共重合ポリマー解析の新提案 -高分解能質量分析とNMRによる多角的分析...
合成高分子材料の多くには、2つ以上のモノマーで構成される共重合ポリマーが活用されています。これらの構造はホモポリマーよりも複雑であるため単一の分析装置で得られる情報には限りがあります。本セミナー...
20230621 AIが導く先進のGC-MS構造解析アプリケーション ～msFineAna...
GC-TOFMS専用解析ソフトウェアであるmsFineAnalysisは、ハードイオン化法である電子イオン化法 (EI) と、電界イオン化法 (FI) や光イオン化法 (PI) といったソフトイ...
20230602 JEOLの最新代替キャリアガスアプリケーション ～水素・窒素...
GC-MSのキャリアガスとしてのヘリウムを取り巻く環境は、一部供給で落ち着きを見せている反面、価格面においては厳しい状況が続くと予想されており、代替キャリアガスを利用したGC-MSの運用につきま...
20230922 未知物質を既知物質へ！ – GC-MS定性分析における効率的な...
GC-MSを用いた揮発性化合物の定性分析では、EIマススペクトルを用いたライブラリーデータベース (DB) 検索により化合物同定を行うことが一般的です。 ただし、DB未登録の成分 (未知物質)...
20231013 最新サーマルディソープションシステムが導くGC-MSによる環...
サーマルディソープション(Thermal Desorption:TD)は大気や室内空気、材料や食品等からの発生ガスを捕集･濃縮するためのGC-MS前処理装置です。本ウェビナーではMarkes製T...
異物の特定にこの一台！簡単便利なXRF-異物のサンプリングから分析ま...
品質管理の場面において、製品に混入・付着した異物を特定することは、原因解明のために非常に重要です。 異物分析には様々な装置が用いられています。中でもエネルギー分散型蛍光X線分析装置 (XRF)...
20230512 XRF最新技術、ヘリウムフリーで液体中の軽元素測定を可能に...
XRFで液体中の軽元素を分析する際、試料室をヘリウムで置換し測定が行われています。 しかし、昨今ヘリウムが不足しており、この手法を継続することが難しくなってきています。 そこで今回日本電子で...
表面分析のお悩みを一挙解決 ～新方式エネルギーフィルターSEMの活用...
本発表でご紹介する"Spectrum Image"は、弊社が産業技術総合研究所の田口様らとの共同研究により開発いたしました。 この新方式は各ピクセルにスペクトル情報が格納されているため、エネル...
EPMA分析の留意点 ‐分析Ｘ線の選択について‐ 動画閲覧お申込みフォ...
近年、高い波長分解能と微量元素分析能力を持ったEPMA（Electron Probe Microanalyzer）は、測定条件自動設定機能の精度向上により、クリックひとつでほぼ間違いのない分析X...
初心者必見！UPSを使った仕事関数測定のコツ紹介 -XPS装置のさらなる...
仕事関数は電子放出材料や電子デバイス等の分野において重要な物性量であり、様々な手法で評価されています。 そこで今回は表面汚れ量や試料の元素組成を評価できるXPS装置にUPS (紫外線光電子分光...
蛍光X線と特性X線の活用術 ～XRF・EPMA見落としのない測定条件設定方...
XRF・EPMAともに元素分析を行う装置として知られていますが、得られる結果には違いがあります。この"違い"を活用することで、より効率的・より正確な測定を行うことができるようになります。 今回...
薄膜・多層膜の分析でお悩みの方へ ～XPSを用いた深さ方向分析の基礎...
近年、半導体材料をはじめとする極薄多層膜について、膜厚の均質性や界面急峻性を高精度に評価することが求められています。その中でXPS測定とArイオンエッチングを組み合わせた深さ方向分析は、試料前処...
測定条件の設定でお悩みの方へ ～目的に合った分析条件の提案をします...
EPMA (Electron Probe Microanalyzer) は高い波長分解能を持ち、大電流を流せるため局所微量元素分析を得意とする分析装置です。最新のEPMAは測定条件の自動設定機能...
化学状態？ 電子状態？ どんと来い！ ～ エネルギーフィルターSEMの活...
本発表で紹介いたしますエネルギーフィルターSEMに搭載された検出器は、非常に高いエネルギー分解能を有しております。 そのため、元素分析はもちろん化学状態分析や電子状態の分析までも可能とします。...
20220902 電子線を使った微小領域における化学状態分析とその定量
オージェ電子分光分析装置 (AES) は表面から数 nmといった極浅い領域の元素分析や化学状態分析を行う装置です。サブマイクロメートル以下の微小領域で表面元素分析を行う場合には、非常に有用な装置...
20221118 EPMAにおける微量元素測定へのアプローチ
電子プローブマイクロアナライザー (EPMA) は表面の組織および形態の観察と、ミクロンオーダーの局所元素分析を行う分析装置です。特に、SEM-EDSに比べて大電流での分析が可能な事から、微量元...
薄膜・積層膜の分析方法をお探しの方へ ~XRF,XPSを用いた分析のご紹介...
試料表面に形成された薄膜・積層膜の元素組成や化学状態、その膜厚を調べるという要求は多くあります。そのような試料の分析には、SEM,TEMを用いて断面観察しながらの分析がよく行われていますが、高度...