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ウェビナー No.111461

2023/05/30 | 10:30 - 16:30

XPS(ESCA)の基礎と応用セミナー

表面分析・界面分析の代表的な手法であるX線光電分光分析(XPS/ESCA)について、原理から測定・解析手順、コツやノウハウまで、応用事例を交えてわかりやすく解説します。 ■はじめに 表面...

ウェビナー アーカイブ No.116499

2023/07/21 | 13:00-16:30

セミナー「XPS(ESCA)の基礎と応用」の詳細情報 - ものづくり...

~X線光電子分光分析の測定手順と適切な分析運用とノウハウ~ ■XPS分析の原理と進め方■ ■XPS(ESCA)データ解釈の注意点■ ■各種表面分析の中でのXPS分析の特徴と組み合わせ方...

ウェビナー No.138467

2023/09/08 | 13:00~17:00

B230968: XPSの基礎と測定・解析のポイントおよび最新動向

XPSは化学組成・科学結合状態の実用的表面分析法として多様な分野で活用されている。近年より実用的な硬X線光電子分光法(HAXPES)や準大気圧光電子分光法(APXSP)が開発され、デバイスや触媒...

ウェビナー No.123356

2023/09/15 | 10:30-16:30

セミナー「分析におけるスペクトル解析の基本から応用テクニック」の...

FTIRやXPSを中心としたいわゆる分光分析は、材料やプロセスの解析・評価、トラブル解決において必要不可欠なものとなっている。開発当初は、スペクトルを得るだけでも長い時間と高度な技術を要した。し...

ウェビナー No.139098

2023/10/12

異種材料接着 (樹脂/金属、樹脂/樹脂) のメカニズムと接合界面の密着...

■趣旨:  ゴム・樹脂材料の多くは、単独では強度が弱いため補強して使用される。金属、セラミックス、 繊維および木材などの材料はゴム・樹脂材料の有効な補強材であるが、この補強化技術の一つに ...

ウェビナー アーカイブ No.132663

2023/10/20 | 13:00-16:45

セミナー「シランカップリング剤の反応メカニズムと使用方法・反応状...

シランカップリング剤の基本的な使いこなし方から、処理状態を分析する方法まで解説!   ~ 作用機構、粉体処理、樹脂改質、被処理材表面の状態評価など ~

ウェビナー No.139699

2023/11/16 | 12:30-16:30

セミナー「シランカップリング剤による表面処理技術」の詳細情報 - も...

シランカップリング剤は従来から無機・有機材料界面でのぬれ、接着性、相容性向上のために広く使われており、さらに近年ではナノスケールで均一化された無機・有機コンポジット/ハイブリッド系材料開発に不可...

ウェビナー No.139807

2023/11/27 | 10:30-16:30

セミナー「高機能化、高性能化のための表面処理法の基礎と表面分析法...

表面はあらゆる技術や製品の基盤となるものであり、現在扱われる材料やプロセス、技術、商品で表面が関与していないものは無いと言っても過言ではありません。これは言い方を変えると、現代は表面に支配され...

ウェビナー 視聴無料 No.147944

2024/01/26 | 16:00~17:00

XPSを用いたポリマー試料の波形分離計算時のパラメータの決め方 | イ...

X 線光電子分光法では、ポリマー試料の化学結合状態分析時に波形分離計算により官能基の同定、定量を行う。その際、バックグラウンドを除去したスペクトルに対してピーク位置、ピーク幅などのパラメータを設...

ウェビナー No.149715

2024/03/14 | 13:00~16:00

表面分析(TOF-SIMS、XPS)の原理と分析のポイント・データ解釈の注意...

☆表面分析の原理とそれに基づいた使い分けから、試料作製、測定条件の設定方法、データ解析を適切におこなうためのノウハウをわかりやすく解説する

アーカイブ 視聴無料 No.146672

薄膜・積層膜の分析方法をお探しの方へ ~XRF,XPSを用いた分析のご紹介...

試料表面に形成された薄膜・積層膜の元素組成や化学状態、その膜厚を調べるという要求は多くあります。そのような試料の分析には、SEM,TEMを用いて断面観察しながらの分析がよく行われていますが、高度...

アーカイブ 視聴無料 No.146675

20220902 電子線を使った微小領域における化学状態分析とその定量

オージェ電子分光分析装置 (AES) は表面から数 nmといった極浅い領域の元素分析や化学状態分析を行う装置です。サブマイクロメートル以下の微小領域で表面元素分析を行う場合には、非常に有用な装置...

アーカイブ 視聴無料 No.146679

薄膜・多層膜の分析でお悩みの方へ ~XPSを用いた深さ方向分析の基礎...

近年、半導体材料をはじめとする極薄多層膜について、膜厚の均質性や界面急峻性を高精度に評価することが求められています。その中でXPS測定とArイオンエッチングを組み合わせた深さ方向分析は、試料前処...

アーカイブ 視聴無料 No.146682

初心者必見!UPSを使った仕事関数測定のコツ紹介 -XPS装置のさらなる...

仕事関数は電子放出材料や電子デバイス等の分野において重要な物性量であり、様々な手法で評価されています。 そこで今回は表面汚れ量や試料の元素組成を評価できるXPS装置にUPS (紫外線光電子分光...