企業向けウェビナー検索
登録件数:144,930件
キーワード
 開催日 
並び替え:
終了日順 関連度順
アーカイブ 視聴無料 No.146173

車両シミュレーションのスケールアップをより柔軟に!  ~フルビーク...

CASEが進むにつれ、車両シミュレーションの重要性が増しています。 本Webセミナーでは、プラント、制御器、センサーなどのコンポーネントやテストシナリオを指定するだけで車両モデルを自動構築する「...

アーカイブ 視聴無料 No.146343

これで解決!モーター制御のシミュレーションとマイコン実装~MBDで加...

本セミナーでは、MBDのシミュレーション・マイコン実装に焦点を当て、シミュレーションプラットフォームを提供するMathWorksと、マイコンベンダーのルネサスエレクトロニクス株式会社が共同でお届...

アーカイブ 視聴無料 No.146634

GRANDARM:tm:2と最新の観察、分析手法を用いたアプリケーションの紹介...

日本電子 (JEOL) のイベント・セミナーをご紹介。電子顕微鏡 (TEM,SEM) 、核磁気共鳴装置 (NMR) や質量分析装置 (MS) などの理科学計測機器・医用機器・半導体関連機器・産業...

アーカイブ 視聴無料 No.146636

視野カットなし! ダイナミックな細胞観察のご紹介 動画閲覧お申込み...

TEM観察において、グリッドのバーによる視野カットが原因で広域のデータを得ることが難しい場合があります。通常はバーのない単孔グリッドを使うことが多いですが、支持膜が破れやすいため取り扱いが難しく...

アーカイブ 視聴無料 No.146637

ビギナーから使える!透過電子顕微鏡JEM-F200の可能性! -従来の手法...

多目的電子顕微鏡JEM-F200を使用した、様々な解析事例や研究成果を紹介します。JEM-F200で取得した基礎データの紹介も行います。 応用データとしては磁性体サンプルを用いた結果や、そ...

アーカイブ 視聴無料 No.146641

自動収集されたマイクロ電子回折パターンによる薬剤分子の三次元構造...

マイクロ電子回折法は試料を傾斜させながら電子回折図形を取得し、得られた傾斜シリーズから試料の結晶構造を解析する手法です。電子線はX線よりも試料との相互作用が強く、1ミクロン程度の小さな結晶から解...

アーカイブ 視聴無料 No.146648

ルーティンワークはJSM-IT510におまかせ ~Simple SEMで変わるSEMの...

走査電子顕微鏡 (SEM) は、今や研究開発だけでなく、品質保証や製品検査で幅広く使われています。これらの現場では、決められた条件で観察を繰り返すことが多く、作業の効率化が求められてきました。 ...

アーカイブ 視聴無料 No.146649

JCM-7000を使うとこんなに簡単!電子部品の機械研磨断面を迅速解析し...

走査電子顕微鏡 (SEM) で試料の内部構造を観察する前処理法の一つとして、機械研磨による断面作製があります。 機械研磨面は広領域の断面が得られるため、卓上SEM JCM-7000のZerom...

アーカイブ 視聴無料 No.146651

ウィルス、細菌、真菌!どのSEMで観察しますか?試料に応じた使い分け...

試料や目的に応じて最適な観察条件は変わります。つまり、どのSEMで観察するかがとても重要になります。 今回は装置の使い分けが特に難しい大きさの生物試料を中心に卓上SEM、W-SEM、汎用FE-...

アーカイブ 視聴無料 No.146653

試料を冷やしてダメージ軽減!ソフトマテリアルや含水試料の観察! 動...

ソフトマテリアルや含水試料は、SEM観察が難しい試料です。これらの試料に対して、従来はクライオシステムを用いて観察していましたが、冷却ホルダーとSEMの低真空 (LV:Low Vaccum) 機...

アーカイブ 視聴無料 No.146655

Correlative microscopy (CLEM) の実践的なワークフロー 動画閲覧お申...

三次元的なCorrelative microscopy (CLEM) を行うための具体的な方法をご説明します。登上線維に蛍光タンパク質を発現したマウスの小脳を共焦点顕微鏡 (OM)で撮影し、三次...

アーカイブ 視聴無料 No.146677

化学状態? 電子状態? どんと来い! ~ エネルギーフィルターSEMの活...

本発表で紹介いたしますエネルギーフィルターSEMに搭載された検出器は、非常に高いエネルギー分解能を有しております。 そのため、元素分析はもちろん化学状態分析や電子状態の分析までも可能とします。...

アーカイブ 視聴無料 No.146678

測定条件の設定でお悩みの方へ ~目的に合った分析条件の提案をします...

EPMA (Electron Probe Microanalyzer) は高い波長分解能を持ち、大電流を流せるため局所微量元素分析を得意とする分析装置です。最新のEPMAは測定条件の自動設定機能...

アーカイブ 視聴無料 No.146679

薄膜・多層膜の分析でお悩みの方へ ~XPSを用いた深さ方向分析の基礎...

近年、半導体材料をはじめとする極薄多層膜について、膜厚の均質性や界面急峻性を高精度に評価することが求められています。その中でXPS測定とArイオンエッチングを組み合わせた深さ方向分析は、試料前処...

アーカイブ 視聴無料 No.146681

蛍光X線と特性X線の活用術 ~XRF・EPMA見落としのない測定条件設定方...

XRF・EPMAともに元素分析を行う装置として知られていますが、得られる結果には違いがあります。この"違い"を活用することで、より効率的・より正確な測定を行うことができるようになります。 今回...

アーカイブ 視聴無料 No.146682

初心者必見!UPSを使った仕事関数測定のコツ紹介 -XPS装置のさらなる...

仕事関数は電子放出材料や電子デバイス等の分野において重要な物性量であり、様々な手法で評価されています。 そこで今回は表面汚れ量や試料の元素組成を評価できるXPS装置にUPS (紫外線光電子分光...

アーカイブ 視聴無料 No.146684

EPMA分析の留意点 ‐分析X線の選択について‐ 動画閲覧お申込みフォ...

近年、高い波長分解能と微量元素分析能力を持ったEPMA(Electron Probe Microanalyzer)は、測定条件自動設定機能の精度向上により、クリックひとつでほぼ間違いのない分析X...

アーカイブ 視聴無料 No.146685

表面分析のお悩みを一挙解決 ~新方式エネルギーフィルターSEMの活用...

本発表でご紹介する"Spectrum Image"は、弊社が産業技術総合研究所の田口様らとの共同研究により開発いたしました。 この新方式は各ピクセルにスペクトル情報が格納されているため、エネル...

アーカイブ 視聴無料 No.146690

異物の特定にこの一台!簡単便利なXRF-異物のサンプリングから分析ま...

品質管理の場面において、製品に混入・付着した異物を特定することは、原因解明のために非常に重要です。 異物分析には様々な装置が用いられています。中でもエネルギー分散型蛍光X線分析装置 (XRF)...

アーカイブ 視聴無料 No.146698

HPLCとの組み合わせで広がる!MALDI-TOFMSによるポリマー分析の可能性...

高質量分解能MALDI-TOFMSを用いた合成高分子分析は、近年ケンドリックマスディフェクト (KMD) 解析との組み合わせにより複雑な工業材料分析にも適用可能になりました。 一方でMALDI...